| 供應(yīng)商 | 深圳市木士電子有限公司 店鋪 |
|---|---|
| 認(rèn)證 | |
| 報(bào)價(jià) | 面議 |
| 關(guān)鍵詞 | 供應(yīng)二手ICT,二手ICT品牌,防城港二手ICT,供應(yīng)二手ICT |
| 所在地 | 廣東深圳 |
4年
泰瑞達(dá)：Teradyne TestStation LH Teradyne TestStation LX Takaya測(cè)試飛針：APT-9401CJ APT-9411 APT-1400 以上設(shè)備整機(jī)板卡配件都回收： 安捷倫Agilent3070板卡.
ICT能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出
測(cè)試結(jié)果，包括故障位置、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值，
以供維修人員參考?？梢杂行Ы档腿藛T對(duì)產(chǎn)品技
術(shù)依賴度，不需對(duì)產(chǎn)品線路了解，照樣有維修能力。
4.能夠?qū)y(cè)試不良資訊統(tǒng)計(jì)，生產(chǎn)管理人員加以
分析，可以找出各種不良的產(chǎn)生原因，包括人為
的因素在內(nèi)，使之各個(gè)解決、完善、指正，藉以
提升電路板制造及品質(zhì)能力。
正是由于ICT以上功能所帶給客戶的效益，
才有今天ICT得已廣泛運(yùn)用的現(xiàn)實(shí)！
1．產(chǎn)量增加：ICT在線測(cè)試儀的檢測(cè)速度非?？?，
如300個(gè)元件的線路板約3秒鐘全部檢測(cè)，比人工
檢測(cè)時(shí)間大大縮短，產(chǎn)量可大大提高。
2．降低成本：
A.使維修工作簡(jiǎn)單化,維修速度加快,減少維
修人員，降低維修成本,
B.降低因誤判而損壞的元件成本，
C.減少維修備品庫(kù)存!
3．使產(chǎn)品一次良品率提高：提供大量的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，
以便生產(chǎn)管理者對(duì)生產(chǎn)工藝進(jìn)行及時(shí)監(jiān)督,調(diào)整,管理
的在線測(cè)試儀實(shí)測(cè)證明電解電容極性可測(cè)率高達(dá)100％真正功能價(jià)格比的在線測(cè)試儀功能、品質(zhì)的測(cè)試技術(shù)● 的電解電容極性測(cè)試技術(shù)可測(cè)率高達(dá)100％。● 開(kāi)短路及IC保護(hù)二極體之測(cè)試程式自動(dòng)學(xué)習(xí)生成。● 電腦自動(dòng)隔離點(diǎn)選擇功能，可達(dá)10個(gè)點(diǎn)?！?多連板程式自動(dòng)生成功能?！?CMOS+RELAY結(jié)合的開(kāi)關(guān)板設(shè)計(jì)，使測(cè)試既快又穩(wěn)定● R.L.C相位分離技術(shù)● 雜散電容OFFSET功能● 系統(tǒng)自我診斷功能?！?完整的統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能，資料可自動(dòng)存儲(chǔ)，不因斷電而丟失數(shù)據(jù)。● 對(duì)小電阻使用特殊四線式測(cè)試模式，可排除探針與電路板之間不穩(wěn)定接觸電阻?！?應(yīng)用IC Clamping Diode特性，檢測(cè)IC腳位故障及焊接不良?！?體積小，重量輕，使用靈活，符合高科科技產(chǎn)品輕，薄，短，小的要求
這些特長(zhǎng)為尋求更好測(cè)試覆蓋而不增加測(cè)試成本的客戶提供了機(jī)會(huì)。
i1000D包括標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)建邊界掃描測(cè)試能力和具有安捷倫新獲獎(jiǎng)的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加電無(wú)矢量測(cè)試套件。
電源
DUT 電源 0V 至 +20V
0V 至 -14V
高壓 DUT 電源 10V 至 +100V
0V 至 -14V
電源通道數(shù)
可編程 0 – 5 V @ 20A
可編程 0 –14V @ 10A
可編程 0 – 20V @ 4A
可編程 0 – -14V @ 5A
可編程 10 –100V @ 10mA
常規(guī)
兩路
無(wú)
一路
一路
無(wú)
高壓
一路
一路
無(wú)
一路
一路
N6700 DUT 電源單元 4 x 可編程通道
0 至 50V @ 5A，每一通道
過(guò)壓保護(hù) 有
過(guò)流保護(hù) 有
系統(tǒng)電源 AC 200V – 240V
10A
夾具
軟件規(guī)范
操作系統(tǒng) Windows XP Home Edition
支持語(yǔ)言 英語(yǔ)
簡(jiǎn)體漢語(yǔ)
繁體漢語(yǔ)
( 支持本地化 )
無(wú)矢量測(cè)試技術(shù) VTEP v2.0 測(cè)試套件 ( 包括 VTEP, iVTEP 和 NPM)
覆蓋擴(kuò)展
Extest Toggle
探針位置圖
引腳位置圖
器件位置圖
探針引腳定位器 帶導(dǎo)向探針的引腳定位器
實(shí)施產(chǎn)出量顯示 運(yùn)行時(shí)的實(shí) FPY ( 一次合格率 ) 顯示
產(chǎn)出率增強(qiáng)工具 自動(dòng)重測(cè)試
自動(dòng)測(cè)試周期重復(fù)
調(diào)試界面 便于選擇測(cè)試選項(xiàng)的電子表單格式
自動(dòng)調(diào)試 自動(dòng)調(diào)試模擬不加電測(cè)試和 VTEP v2.0
擴(kuò)展能力 達(dá) 28 槽的單一模塊設(shè)計(jì)
缺陷消息打印機(jī) 使用并行端口 (LPT1) 接口（不包括打印機(jī)）
發(fā)運(yùn)和安裝幫助 包括 (Keysight 授權(quán)代理商 )
電容器放電保護(hù) 有
支持的夾具類型 長(zhǎng)線壓床型
所屬分類：二手儀器儀表/二手檢測(cè)儀器
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