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三桂sankei探針CPS35-D-SPS和CP40-D-SPS測針

更新時間:2025-09-20 [舉報]
三桂sankei探針CPS35-D-SPS和CP40-D-SPS測針
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三桂sankei探針CPS35-D-SPS和CP40-D-SPS測針
CPS35-D-SPS:彈簧內(nèi)置型精密探針
彈簧結構:采用雙彈簧緩沖設計(Dual Spring),可有效吸收接觸沖擊,減少對被測表面的損傷,尤其適用于脆性材料(如 GaN、SiC 晶圓)的測試。
頭部設計:
D-SPS:尖頭(Domed Tip)+ 三棱錐(Splinter Tip)復合結構,針尖直徑可至 35 微米,適配 5nm 以下制程的高密度焊盤。
材質:高強度鈹銅合金鍍厚金(≥2μm),兼顧導電性與耐磨性,接觸電阻≤1Ω。
安裝接口:尾部螺紋為M2.5 標準,適配三桂 TA35T 針套,防松脫設計可應對高頻振動環(huán)境。
2. CP40-D-SPS:彈簧外置型通用探針
彈簧結構:傳統(tǒng)單彈簧外置設計,結構簡單、成本較低,適合常規(guī)電子測試。
頭部設計:
D-SPS:純尖頭(Domed Tip)+ 三棱錐(Splinter Tip),穿透氧化層能力強,接觸面積≤0.05mm2,適合微小焊盤測試。
材質:超硬鎢合金鍍薄金(≥1μm),接觸電阻≤1Ω,滿足測量需求。
安裝接口:尾部螺紋為M3 標準,適配三桂 AS-40 (15) 針套,兼容 2.54mm 節(jié)距的測試夾具布局。
三桂sankei探針CPS35-D-SPS和CP40-D-SPS測針
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