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三桂sankei探針CP40P-D-SPL精密測試探針

更新時間:2025-09-20 [舉報]
三桂sankei探針CP40P-D-SPL精密測試探針
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CP 系列
CP(Contact Probe) 系列為三桂基礎款探針,采用一體型針桿 + 外置彈簧結構,固有電阻低(≤1Ω),適合常規(guī)電子測試。CP40P 中的 "40" 可能代表直徑 4.0mm(參考 CP40-H-SPS 型號的 2.0mm 直徑標注,需結合實物確認),但根據(jù)搜索資源推測實際直徑為2.0mm。
P:可能代表平面頭設計(Plane Tip),與 SPL 組合形成復合頭型(平面三棱錐),兼顧穿透氧化層能力和接觸穩(wěn)定性。
2. D-SPL 頭部設計
D:尖頭(Domed Tip),頂角精度 ±1°,可穿透 3-5μm 氧化層,確保低阻抗連接。
SPL:三棱錐頭(Splinter Tip),接觸面積≤0.05mm2,適合微小焊盤或高阻抗表面測試。
復合頭型:平面三棱錐結構可能結合兩種設計優(yōu)勢,既提升穿刺力又增加接觸面積,需實物驗證。
3. 物理參數(shù)
總長:約 50mm(參考 CP40-H-SPS 的總長設計)。
行程:2-5mm,壓縮比 2/3 時彈簧力約 50-100gf,適配不同高度測試目標。
安裝接口:適配三桂AS-40 (15) 探針座(M3 螺紋接口),支持 ±0.05mm 安裝偏差補償。
三桂sankei探針CP40P-D-SPL精密測試探針
三桂sankei探針CP40P-D-SPL精密測試探針
標簽:SANKEI三桂測針鄭州市平山貿易
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