常見的有色金屬礦石檢測設(shè)備包括：
1. X射線熒光光譜儀：通過測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜，確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀：利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件，對礦石樣品進(jìn)行離子化和分析，以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。

有色金屬礦石品位快速分析儀A-4000可以快速檢測各種有色金屬礦石中金屬元素種類及含量，該分析儀體積小、重量輕、分析速度快，適合在現(xiàn)場對礦石品位進(jìn)行檢測，可以檢測的礦石包含各種有色金屬礦石。

分析儀采用了X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及惠普個(gè)人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌 上型電腦)，從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色，并具有的升級潛力。

近紅外光譜區(qū)域
由于不同的物質(zhì)含有不同的基團(tuán)，不同的基團(tuán)有不同的能級，不同的基團(tuán)或同一基團(tuán)在不同物理化學(xué)環(huán)境中對近紅外光的吸收波長都有明顯差別，且吸收系數(shù)小，發(fā)熱少，因此近紅外光譜可作為獲取信息的一種有效的載體。近紅外光照射時(shí)，頻率相同的光線和基團(tuán)將發(fā)生共振現(xiàn)象，光的能量通過分子偶極矩的變化傳遞給分子；而如果近紅外光的頻率和樣品的振動(dòng)頻率不相同，該頻率的紅外光就不會(huì)被吸收。因此，選用連續(xù)改變頻率的近紅外光照射某樣品時(shí)，由于試樣對不同頻率近紅外光的選擇性吸收，通過試樣反射后的近紅外光線在某些波長范圍內(nèi)會(huì)變?nèi)?，這樣紅外光線就攜帶樣品組分和結(jié)構(gòu)的信息。通過檢測器分析反射光線的光密度，就可以確定該組分的含量。

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檢測范圍 　　
品位0.1-95% 硅 0.01-0.1% 磷 0.01-0.9% 　　
鈦 0.1-45% 鋁 0.01-5% 　　
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