快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)的速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率低至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達(dá)25m㎡）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低
2、采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)率，采集有效計(jì)數(shù)率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度

產(chǎn)品功能：
1.具有遠(yuǎn)程診斷功能說明:我們軟件集成了常用的DCS系統(tǒng)的通訊協(xié)議，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可與工廠的配料系統(tǒng)的控制中心或PLC進(jìn)行數(shù)據(jù)交換，即可向配料系統(tǒng)傳送分析數(shù)據(jù)，也可傳送配比數(shù)據(jù)。實(shí)現(xiàn)在線數(shù)據(jù)分析、在線質(zhì)量。
2.具有技術(shù)的，快速，安全，性能可靠而實(shí)用的樣品裝卸系統(tǒng)
3.搖臂式設(shè)計(jì)的樣品裝卸系統(tǒng)，完善的粉末保護(hù)方式，預(yù)真空室和限定位置機(jī)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)高度重現(xiàn)性，無故障，快速穩(wěn)定。1000W光路設(shè)計(jì)示意圖，

x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。
（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。
（2）粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。
（3）液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等

x熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成，可以產(chǎn)生X熒光來檢測各元素的特征X射線的強(qiáng)度，從而測定元素含量。臺(tái)式X熒光光譜儀的正確操作方法如下：
1、儀器采用X光管產(chǎn)生激發(fā)源，因此，在不使用時(shí)，儀器會(huì)自動(dòng)將X光管的高壓斷掉，使X光管的電源處理待機(jī)狀態(tài)。此時(shí)，儀器將不會(huì)產(chǎn)生任何射線，同時(shí)大大X光管的壽命。
2、在放置樣品時(shí)，只要開啟防護(hù)罩，儀器也自動(dòng)將X光管停止，不再產(chǎn)生X射線，完全可以保護(hù)使用者的人身安全。
3、開啟、關(guān)閉儀器蓋子時(shí)，應(yīng)輕開輕放。
4、設(shè)備使用的操作人員，要接受安全和操作培訓(xùn)后，才可上機(jī)，以確保設(shè)備的安全操作與正確使用。
臺(tái)式X熒光光譜儀的操作人員應(yīng)該養(yǎng)成正確的設(shè)備使用習(xí)慣，在使用中嚴(yán)格按照操作規(guī)程來對儀器進(jìn)行操作。

技術(shù)指標(biāo)高靈敏度探測器（分辨率達(dá)149Ev），精密的放大電路，
提高Cd、Pb元素的靈度。
檢出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀
樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體
小樣品腔尺寸：300×300×100mm
大樣品腔尺寸：樣品尺寸不受限制
X射線管：靶材/Mo管電壓/5～50kV管電流/1～1000μA
照射直徑：2、5、8mm
探測器：Si(PIN)半導(dǎo)體高靈敏度探測器
濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇
樣品定位：微動(dòng)載物平臺(tái)（選配）
樣品觀察：130萬分辨率彩色CCD攝像機(jī)
微區(qū)分析：X光聚焦微區(qū)分析系統(tǒng)（選配）軟件
定量分析：理論Alpha

X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。
受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：
λ=K(Z? s) ?2
式中K和S是常數(shù)。
而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個(gè)光具有的能量為：
E=hν=h C/λ
式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。
因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。