鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10-40秒內(nèi)完成。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、、實用化的方向進(jìn)了一步。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識，對每一種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為電子，這時原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量或厚度。



鍍層測厚儀可用于連接器、汽車配件、線路板、半導(dǎo)體等行業(yè)。根據(jù)鍍層測厚儀技術(shù)分類，測厚儀產(chǎn)品包含：XRF鍍層測厚儀、電解式鍍層測厚儀、渦流鍍層測厚儀、磁感應(yīng)鍍層測厚儀等多種鍍層測厚儀產(chǎn)品。根據(jù)鍍層測厚儀的外形分類，測厚儀包含：手持式鍍層測厚儀、臺鍍層式測厚儀。



鍍層測厚儀它采用較新X射線熒光技術(shù)，具有精度高、示值穩(wěn)定、功耗低、分辨率高、操作界面人性化等特點。其新增加的功能包括：成分分析，F(xiàn)P測試方法等，使儀器更加適合工業(yè)現(xiàn)場的工作需求，給客戶提供了更多的便利。測試的數(shù)據(jù)不容易受到干擾，并且優(yōu)良的精度、即使溫度變化了也不會影響測量。了重復(fù)性。

：相比化學(xué)分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。 簡易：對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護(hù)簡單方便。 鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。廣泛應(yīng)用在電器電器、五金工具、汽車配件、高壓開關(guān)、 制冷設(shè)備、精密五金、電鍍加工、衛(wèi)浴、PCB線路板等企業(yè).


鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。 鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。