半導體測試探針的主要應用領域包括芯片設計驗證、晶圓測試和半導體成品測試。它起著連接芯片/晶圓與測試設備，并進行信號傳輸?shù)暮诵淖饔?，對于半導體產(chǎn)品的質(zhì)量控制具有重要意義。

探針一般由精密儀器鉚接預壓后形成，針頭、針尾、彈簧、外管四個基本部件。

由于半導體產(chǎn)品體積小，特別是芯片產(chǎn)品尺寸非常小，探針尺寸要求達到微米級。它是一種精密電子元器件，具有較高的制造技術含量。

在晶圓或芯片測試的過程中，通常會使用探針來準確連接晶圓或芯片的引腳或錫球與測試機，以便檢測產(chǎn)品的導通性、電流性、功能性和老化性等性能指標。

探針，作為一種精密的檢測工具，在科學研究、工業(yè)制造、醫(yī)學診斷等領域中扮演著至關重要的角色。它是一種能夠與被測物體表面接觸或非接觸交互，從而獲取物理、化學、生物等多方面信息的產(chǎn)品。其中，五孔探針的設計與應用廣泛多樣，從簡單的機械觸點到復雜的電子傳感器，都在各領域發(fā)揮重要作用。