配合不同探測(cè)器的選擇，使Sigma 廣泛地適用于您的應(yīng)用：無論是正在開發(fā)的新材料、用于質(zhì)量檢查的顆粒還是生物或地質(zhì)標(biāo)本，該電鏡可助您研究各種樣品。在極端條件下，利用可變壓力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低電壓下，也能在非導(dǎo)體上獲得出色的圖像和分析結(jié)果。

掃描電鏡可以采集多種不同類型的信號(hào)用于成像和分析，其中二次電子(SE)和背散射電子(BSE)信號(hào)是基本也是常見的兩種信號(hào)類型。
不同廠家和型號(hào)的電鏡在采集SE，BSE信號(hào)時(shí)所用的探測(cè)器都具有各自特的技術(shù)，但旁置式二次電子探測(cè)器和極靴下背散射電子探測(cè)器在架構(gòu)和工作原理方面相對(duì)固定，應(yīng)用也很廣泛，因此本文只會(huì)對(duì)旁置式二次電子探測(cè)器和極靴下背散射電子探測(cè)器進(jìn)行介紹。

掃描電鏡及X射線能譜儀或電子探針為準(zhǔn)確鑒定鋼中非金屬夾雜物屬性提供了非常可靠的技術(shù)，他可以將D類等非金屬夾雜物的二維和三維形貌、與所含元素的X射線元素面分布圖、與其內(nèi)含有元素或所含簡(jiǎn)單氧化物的重量百分?jǐn)?shù)和原子百分?jǐn)?shù)定量分析結(jié)果有機(jī)結(jié)合起來，對(duì)這種D類非金屬夾雜物給出一個(gè)全新的詮釋。由此，作者提出了非金屬夾雜物的相結(jié)構(gòu)概念，用“復(fù)相夾雜物”代替目前常用的“復(fù)雜夾雜物”或“復(fù)合夾雜物”，重新認(rèn)識(shí)這個(gè)對(duì)鋼性能有重要影響的D類非金屬夾雜物，與業(yè)界同行商榷。

蔡司熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SIGMA 500采用Gemini電子束非交叉光路設(shè)計(jì)，突破了傳統(tǒng)設(shè)計(jì)中電子束交叉三次造成能量擴(kuò)散的限制。束流適中，大大降低了色差對(duì)成像質(zhì)量的影響。鏡頭鏡筒內(nèi)置電子束加速器，無需切換減速模式即可實(shí)現(xiàn)的低電壓成像。低20V可成像，樣品類型不受限制。透鏡鏡筒物鏡采用靜電透鏡和電磁透鏡相結(jié)合的方式，在工作距離范圍內(nèi)沒有磁場(chǎng)，可在高倍率下觀察磁性材料。環(huán)形二次電子探測(cè)器In-Lens安裝在鏡筒的正光路上。圓柱形一體化超大樣品室配備5軸全自動(dòng)中心樣品臺(tái)，可容納直徑250mm的超大樣品。同一品牌的電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡可以組合觀察(可選)，只有一個(gè)通用的樣品架和配套的軟件是Shuttle&Find，可以充分發(fā)揮光鏡和電子鏡各自的優(yōu)勢(shì)

激光掃描共聚焦顯微鏡是在傳統(tǒng)熒光顯微鏡成像的基礎(chǔ)上采用激光作為光源，通過使用激光掃描裝置和共軛聚焦裝置，利用計(jì)算機(jī)對(duì)所觀察的對(duì)象進(jìn)行數(shù)字圖像處理的現(xiàn)代化光學(xué)顯微鏡。它能以的分辨率采集細(xì)胞或組織內(nèi)部的熒光標(biāo)記圖像、觀察細(xì)胞或組織內(nèi)部的微細(xì)結(jié)構(gòu)和形態(tài)學(xué)變化、在亞細(xì)胞水平觀察胞內(nèi)重要離子濃度或 pH 的變化、結(jié)合電生理技術(shù)觀察和記錄細(xì)胞的生理活動(dòng)。使用激光掃描共聚焦顯微鏡，還可以對(duì)觀察樣品進(jìn)行斷層掃描和成像、重構(gòu)和分析細(xì)胞的三維空間結(jié)構(gòu)。

蔡司解決方案在增材制造領(lǐng)域的應(yīng)用范圍覆蓋粉末和材料分析，所使用的設(shè)備包括光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、X射線技術(shù)。
使用光學(xué)顯微鏡來測(cè)試金屬粉末的粒徑分布
使用SEM掃描電鏡對(duì)3D打印金屬粉末的球形度和實(shí)心性進(jìn)行分析
使用CT對(duì)粉末顆粒的寬高比和粒徑進(jìn)行分析
對(duì)于內(nèi)部缺陷，蔡司的解決方案也能輕松檢測(cè)，比如微裂紋、分層、疲勞裂紋、盈利、孔隙率、粉末殘留物和氣孔等。