低目數(shù)的砂紙，如 40# - 80#，磨粒較大且間距較寬。在磨樣時(shí)，每個(gè)磨粒與試樣表面的接觸面積相對較大，能夠在單位時(shí)間內(nèi)去除更多的材料，因此對于去除試樣表面的氧化皮、毛刺、較大的加工余量或進(jìn)行快速粗磨等操作非常有效，能快速將試樣表面的大部分不平整和雜質(zhì)去除，使試樣達(dá)到初步的平整狀態(tài)。

由于粗砂紙的磨粒較大，在磨削過程中會(huì)在試樣表面留下較深的劃痕和較大的凹凸不平，磨樣表面的粗糙度較高。不過在磨樣的初始階段，快速去除材料以獲得大致平整的表面是主要目標(biāo)，此時(shí)低目數(shù)砂紙的高磨削效率更為重要。但如果需要較高的表面光潔度，還需要后續(xù)使用高目數(shù)砂紙進(jìn)行進(jìn)一步打磨。

雖然高目數(shù)砂紙磨樣效率相對較低，但能使試樣表面的劃痕變得更淺、更細(xì)密，逐漸消除粗砂紙留下的痕跡，使試樣表面達(dá)到更高的平整度和光潔度。在對試樣表面質(zhì)量要求的情況下，如進(jìn)行光譜分析，需要使用高目數(shù)砂紙進(jìn)行精磨，以確保試樣表面的狀態(tài)符合分析要求。但如果一開始就使用高目數(shù)砂紙對未經(jīng)粗磨的試樣進(jìn)行打磨，會(huì)花費(fèi)大量時(shí)間且效率極低。

如鋁、銅等，一般可以選擇相對高目數(shù)的砂紙起始磨樣。因?yàn)檐涃|(zhì)材料容易被磨削，低目數(shù)砂紙可能會(huì)過度磨削導(dǎo)致表面不平整，通?？梢詮?100# - 200# 砂紙開始，然后根據(jù)需要逐步使用更高目數(shù)的砂紙進(jìn)行精細(xì)打磨。

如果試樣表面存在嚴(yán)重的氧化皮、毛刺或較大的加工余量，應(yīng)先用低目數(shù)的砂紙進(jìn)行粗磨，快速去除這些雜質(zhì)和不平整部分，如 40# - 60# 的砂紙，之后再用較高目數(shù)的砂紙進(jìn)行細(xì)磨和精磨。

細(xì)磨和精磨
更換砂紙：粗磨完成后，關(guān)閉磨樣機(jī)，更換為較高目數(shù)的砂紙，按照從低目數(shù)到高目數(shù)的順序依次進(jìn)行細(xì)磨和精磨。每次更換砂紙時(shí)，都要將砂盤和試樣表面清理干凈，防止粗砂粒等雜質(zhì)混入，影響細(xì)磨和精磨效果。
調(diào)整參數(shù)：隨著砂紙目數(shù)的增加，磨樣時(shí)施加的壓力應(yīng)逐漸減小，避免過度磨削導(dǎo)致表面損傷。同時(shí)，磨樣機(jī)的轉(zhuǎn)速也可根據(jù)需要適當(dāng)調(diào)整，一般來說，高目數(shù)砂紙磨樣時(shí)轉(zhuǎn)速可以稍低一些，以磨樣質(zhì)量。
完成磨樣：按照與粗磨相同的操作方法，使用不同目數(shù)的砂紙逐步對試樣進(jìn)行細(xì)磨和精磨，直到試樣表面達(dá)到光譜分析所要求的平整度和光潔度。在精磨階段，要特別注意觀察試樣表面的質(zhì)量，確保表面無明顯劃痕、凹坑等缺陷。

對磨樣后的試樣進(jìn)行檢查，確認(rèn)表面質(zhì)量是否符合光譜分析的要求。如有需要，可使用表面粗糙度測量儀等設(shè)備對試樣表面粗糙度進(jìn)行測量，并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。同時(shí)，對磨樣過程中的砂紙目數(shù)、磨樣時(shí)間、壓力等參數(shù)進(jìn)行記錄，以便后續(xù)參考和追溯。

目數(shù)是指在一英寸（25.4mm）的長度上，所具有的篩網(wǎng)孔數(shù)。例如，100 目的砂紙，表示在一英寸長度的篩網(wǎng)上有 100 個(gè)孔。目數(shù)是衡量砂紙磨料顆粒大小的一種常用指標(biāo)。
粒度是指磨料顆粒的實(shí)際尺寸大小，通常用微米（μm）作為單位來表示。比如，某磨料顆粒的粒度為 50μm，就意味著該顆粒的平均尺寸為 50 微米。