常見的有色金屬礦石檢測設(shè)備包括:
1. X射線熒光光譜儀:通過測量礦石中元素發(fā)射的特定X射線能譜,確定礦石中金屬元素的含量和比例。
2. 感應(yīng)耦合等離子體質(zhì)譜儀:利用等離子體產(chǎn)生的高溫和離子化的條件,對礦石樣品進(jìn)行離子化和分析,以測量金屬元素的含量和比例。
3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀。
分析儀可以用來對各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場分析。通過現(xiàn)場測試的成熟的X射線管分析系統(tǒng),無輻射性同位素,現(xiàn)場分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類型研究,對樣品要求低,但是測試結(jié)果準(zhǔn)確,能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測試。
·使用了的和多用途的x射線資料模式:采用康普頓常態(tài)化校正方法:可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來進(jìn)行定量分析,而不需要進(jìn)行的校正。基本參數(shù):采用半定量分析方式,適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實(shí)驗(yàn)校正法:利用“校正曲線”進(jìn)行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。
·可以很容易地加入新的元素成份,很容易進(jìn)行校正。因此,Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當(dāng)前和未來的需求。
·可以在顯示熒幕上觀看光譜。
·通過對比光譜進(jìn)行對比分析,顯示出分析結(jié)果,分析結(jié)果將反映是否符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的情況。
·通過更新參數(shù)或更換模式,可以利用存儲(chǔ)的試驗(yàn)結(jié)果再次進(jìn)行新的試驗(yàn)。
·資料安全性:資料以二進(jìn)位格式存儲(chǔ)于設(shè)備中,以資料的完整性。
金屬檢測儀常用領(lǐng)域:
一、金屬回收及未知材料:現(xiàn)場檢測和快速分類,十幾秒內(nèi)即可測出合號和成分含量,精度可達(dá)0.01%。
二、不銹鋼及模具鋼牌號鑒定:
1、快速鑒定不銹鋼牌號,含304食品級不銹鋼。 2、鑒定模具鋼牌號,顯示重要金屬元素及含量。 3、鋁合號鑒定及成份檢測,常見的1-7系列鋁合金的分析等等。
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以化驗(yàn)鐵礦石(鐵粉)中鐵(品位)來對比
傳統(tǒng)方法 我公司設(shè)備
滴定法 (根據(jù)顏色分辨) 光電法(固定量加入)
穩(wěn)定性差 (人為誤差率高) 穩(wěn)定性好(人為誤差率減少)
有經(jīng)驗(yàn)人員操作 非人員經(jīng)過培訓(xùn)都可以操作
配制試劑量多(且含有毒試劑) 配制試劑只有1個(gè)
結(jié)果要人工計(jì)算 結(jié)果直接顯示和打印出來
其他未竟事項(xiàng)請和我公司銷售部聯(lián)系
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