Inlens 探測(cè)器均放置 在鏡筒內(nèi)正光軸上， 在減少重新校準(zhǔn)耗時(shí) 的同時(shí)有效地縮短了獲取圖像的時(shí)間。 Gemini 電子束推進(jìn)器技術(shù)可以在非常 低的加速電壓下仍獲得小束斑和高信噪比。
此外， 它確保了電子束在鏡筒中運(yùn)動(dòng)時(shí)始 終保持高加速電壓， 直至出鏡筒后才減速 至設(shè)定電壓， 更大程度地減小外部雜散磁 場(chǎng)對(duì)系統(tǒng)靈敏度的影響。GeminiSEM 360 、 GeminiSEM 460 和 GeminiSEM 560 三 者 均 應(yīng)用了 Gemini 設(shè)計(jì)、 Inlens 探測(cè)器和電子 束推進(jìn)器技術(shù)。

維修、維護(hù)及優(yōu)化
確保顯微鏡的正常工作時(shí)間。蔡司的維保服務(wù)協(xié)議可讓您的運(yùn)行成本更經(jīng)濟(jì)，避免因停機(jī)而 造成的損失，并通過提升系統(tǒng)性能達(dá)到理想的工作狀態(tài)。維保服務(wù)協(xié)議可為您提供一系列的 可選服務(wù)種類以及不同級(jí)別的服務(wù)。在選擇維保服務(wù)方案上我們會(huì)給予全力支持，以求滿足 您的系統(tǒng)需求與使用要求，同時(shí)遵守您單位的規(guī)定。

產(chǎn)品應(yīng)用領(lǐng)域
■ 金屬 / 高分子 / 陶瓷材料
表面粗糙度分析, 高分辨金相分析, 摩擦磨損分析, 斷口分析, 腐蝕研究, 原位分析。
■ 微納加工
結(jié)構(gòu)分析,表面粗糙度分析, 高深寬比結(jié)構(gòu)表征,膜厚測(cè)量。
■ 半導(dǎo)體和微電子
表面缺陷定位和分析、發(fā)光缺陷觀察,表面粗糙度分析,膜厚測(cè)量等。
■ 醫(yī)療器械檢測(cè)
表面粗糙度分析,金相分析,膜厚測(cè)量,微生物觀察等。
■ 生物材料和醫(yī)學(xué)
金屬表面細(xì)胞生長研究, 微生物金屬腐蝕研究, 植入物表面細(xì)菌生長表征等。